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Identification de particules inconnues sur un circuit imprimé par MEB-EDX

Un des fléaux qui touchent les circuits imprimés sont la présence de micro-particules conductrices qui peuvent occasionner des dégâts irréversibles sur les composants. L’analyse MEB/EDX permet... En savoir +

Analyse élémentaire par ICP-OES (MS)

L’analyse élémentaire avec un ICP permet un référencement quantitatif de constituants majeurs (charges, composants semi-organiques…), mineurs ou de traces (pollution…). Plus de 50 éléments... En savoir +

Applications relatives aux produits liés aux traitements de surfaces

Fonctionnalisation chimique, protection & adhésion... En savoir +

Profilométrie de surface par microscopie confocale laser 3D

La microscopie confocale permet de reconstruire une image 3D d’un composant en mesurant l’intensité réfléchie par ce dernier au niveau du plan focal. La présence d’un diaphragme au niveau du... En savoir +